Прибор для контроля для полупроводниковой пластины, , Walter Uhl

Микроскоп случая светлый для осмотра вафли

основание гранита в портальной конструкции

пробка света случая с башенкой объектива

waferchuck вакуума

Другие характеристики	с оптическим микроскопом
Изделие	для полупроводниковой пластины
Бренд	Walter Uhl

Артикул: Н/Д

Описание

Микроскоп случая светлый для осмотра вафли

основание гранита в портальной конструкции

пробка света случая с башенкой объектива

waferchuck вакуума

Другие характеристики	с оптическим микроскопом
Изделие	для полупроводниковой пластины
Бренд	Walter Uhl