Description
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
Прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
Характеристики
| Бренд | |
|---|---|
| Изделие | для полупроводниковой пластины |
| Другие характеристики | с оптическим микроскопом |
SKU: N/A
Additional information
| Бренд | |
|---|---|
| Изделие | для полупроводниковой пластины |
| Другие характеристики | с оптическим микроскопом |
Related products
-
Датчик влажности и температуры для метеостанции, HC2A-S3, LLC NPP Belenergokip
Подать заявкуAdd to cart -
Калибратор для измерения температуры, RTC series, AMETEK Sensors, Test & Calibration
Подать заявкуAdd to cart -
-
