Описание
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
Прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
Характеристики
| Бренд | |
|---|---|
| Изделие | для полупроводниковой пластины |
| Другие характеристики | с оптическим микроскопом |
Артикул: Н/Д
Детали
| Бренд | |
|---|---|
| Изделие | для полупроводниковой пластины |
| Другие характеристики | с оптическим микроскопом |
