Прибор для контроля для полупроводниковой пластины, 2 – 5 mm, MICRO-EPSILON

Система контроля краев пластин позволяет с высокой точностью измерить поверхность пластин с помощью трех камер обработки изображений. Таким образом, дефекты длиной более 300 нм надежно обнаруживаются. Неисправные пластины могут существенно повлиять на последующие этапы процесса и привести к остановке производства.
Детали
– Надежное обнаружение дефектов
– 2 – 5 мм края пластины
– система обработки изображений высокого разрешения
– Обнаруживает частицы, трещины, царапины, точечные и плоские дефекты, дефекты травления, рост кристаллов, загрязнения и отклонения геометрии

Характеристики

Бренд

Изделие

для полупроводниковой пластины

Артикул: 2 - 5 mm

Описание

Система контроля краев пластин позволяет с высокой точностью измерить поверхность пластин с помощью трех камер обработки изображений. Таким образом, дефекты длиной более 300 нм надежно обнаруживаются. Неисправные пластины могут существенно повлиять на последующие этапы процесса и привести к остановке производства.
Детали
– Надежное обнаружение дефектов
– 2 – 5 мм края пластины
– система обработки изображений высокого разрешения
– Обнаруживает частицы, трещины, царапины, точечные и плоские дефекты, дефекты травления, рост кристаллов, загрязнения и отклонения геометрии

Детали

Бренд

Изделие

для полупроводниковой пластины