Description
Программное обеспечение AvaSoft-ThinFilm, поставляемое в комплекте с нашим тонкопленочным пакетом, является автономным пакетом для управления системой и проведения измерений на тонкопленочных покрытиях.
Программное обеспечение рассчитывает толщину слоя из спектра интерференционных отражений для оптически прозрачных слоев с известными оптическими параметрами. В программе AvaSoft-Thinfilm реализованы два различных метода расчета тонких пленок: быстрое преобразование Фурье (FFT) и оптимальный алгоритм оптимизации (спектр соответствия). Метод БПФ определяет частоту интерференционной картины; в основном он используется для толстых слоев. Оптимизация спектра соответствия определяет наилучшую подгонку для вычислений различной толщины. Параметры подгонки настраиваются для контроля качества подгонки и ускорения обработки данных.
В состав программного обеспечения входит обширная база данных оптических констант “n” и “k” подложек и покрытий. База данных включает подложки и материалы покрытий, используемые в важных областях применения, таких как полупроводниковые и оптические покрытия.
Для AvaSoft-ThinFilm также доступны модули управления технологическим процессом и экспорта в модули расширения Excel.
