Описание
Наноиндентор для атомно-силовых микроскопов
Области применения
• – Определение твердости по ISO 14577
• – Динамические испытания
Испытательный груз
• – 0 – 0,2 Н
Область применения
• – Исследования и разработки (в РЭМ)
Мал да удал
Наноиндентор ZHN/SEM для установки в растровый электронный микроскоп (РЭМ) позволяет проводить микромеханические эксперименты при одновременном наблюдении образца с наивысшим разрешением. Он предлагает наибольший доступный в настоящий момент диапазон измерения с максимальным измерением перемещения в 200 µм и максимальным усилием 200 мН при одновременно очень низким шумом датчиков усилия и перемещения в окружении с низким уровнем вибрации. Его жесткость так высока, что можно без затруднений проводить традиционные измерения твердости.
Стандартная система разработана для инсталляции на столы различных РЭМ, однако также ее можно устанавливать на стенку камеры. Это позволяет использовать существующие возможности отклонения и смещения стола РЭМ.
Система состоит из:
• – измерительной головки с датчиками и приводом
• – пьезо-стола для перемещения образца в направлении XY и вращения вокруг оси индентора (опция)
• – жесткого механического Z-стола для перемещения измерительной головки к образцу
• – ПК и контроллера
• – простого в управлении и очень гибкого ПО
• – одного или двух фланцев с отверстиями (спецификация РЭМ)
