Описание
TopMap Micro.View®+ – это оптический профилометр поверхности нового поколения. Разработанная по модульному принципу, эта комплексная рабочая станция позволяет быстро и эффективно проводить рутинные проверки, а также создавать индивидуальные и специфические для конкретного применения конфигурации для всестороннего анализа микротопографии. Micro.View®+ позволяет проводить самый подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры поверхности и топографии микроструктуры. Сочетание трехмерных данных с цветовой информацией обеспечивает потрясающую визуализацию и расширенный анализ, например, подробное документирование дефектов. Камера высокого разрешения 5 МП обеспечивает невероятно подробную визуализацию 3D-данных на инженерных поверхностях.
Кодированная и моторизованная турель обеспечивает плавный переход между объективами. Micro.View®+ оснащен новейшей системой поиска фокуса и отслеживания фокуса, что позволяет держать поверхность в фокусе при любых обстоятельствах. Полностью моторизованные ступени позиционирования образцов позволяют выполнять сшивку и автоматизацию.
