Description
XRF-анализатор покрытий FT230
FT230 – это новый революционный рентгенофлуоресцентный анализатор толщины покрытий, который эффективно “настраивается” самостоятельно, что позволяет анализировать гораздо больше деталей в течение одной смены.
Каждый элемент FT230 разработан для сокращения времени, необходимого для выполнения XRF-измерений, чтобы вы могли быстрее использовать результаты, сокращая отходы и увеличивая производительность. Нет необходимости в том, чтобы ваш XRF-анализатор покрытий был узким местом в вашем производстве. От мельчайших электронных компонентов до крупных деталей с гальваническим покрытием, FT230 поможет вам сделать больше за меньшее время, облегчая достижение 100% контроля
Почему стоит выбрать FT230?
– Автоматизированная фокусировка сокращает время загрузки образца
– Интеллектуальное распознавание Find My Part™ автоматически устанавливает полный порядок измерений
– Вид образца представлен на большой части экрана для отличной видимости
– Самопроверяющаяся диагностика подтверждает здоровье и стабильность прибора
– Легко интегрируется с другим программным обеспечением и легко экспортирует данные
– Интуитивно понятный и простой в использовании неспециалистами благодаря новому пользовательскому интерфейсу
– Мощный для одновременного измерения до четырех слоев плюс подложка
– Прочность для длительного срока службы в сложных производственных или лабораторных условиях
– Соответствует стандартам ASTM B568 и DIN ISO 3497
– Помогает выполнить спецификации ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), погружения Sn (IPC-4554) и погружения Ag (IPC-4553A)
